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Análisis morfológico superficial de materiales por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) – STAN 6882
GPol
Servicios
Se realizan mediciones morfológicas por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) para conocer las características superficiales de muestras secas, incluyendo polímeros, metales, cerámicos, entre otros. Resolución máxima de aproximadamente 30 nm.
El servicio forma parte del Sistema Nacional de Servicios Tecnológicos de Alto Nivel (STAN) de CONICET.
Equipamiento: Máquina Universal de ensayos Shimadzu AGS-X 20 kN.
Metodología: Se recepta la muestra a ensayar de material plástico, cuya medición se realiza por quintuplicado. Para otro tipo de materiales se evalúa requerimientos de Norma y capacidad de carga del equipamiento. Una vez realizada la medición se elabora un informe de resultados y se entrega al cliente.
Certificaciones
El informe no remite carácter de certificación. Los informes finales incluyen la validación institucional conjunta de UTN y CONICET.
Destinatarios
Industria plástica, del caucho, textil, y de la madera, entre otras; e Investigación y Desarrollo.